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上海楹点检测设备有限公司提供的无损检测仪器设备包括:超声检测(UT);射线检测(RT);渗透检测(PT);磁粉检测(MT);涡流检测(ET);化学用品(CH)、超声波相控阵、超声波测厚仪、超声导波、超声TOFD探伤仪、超声波探头、涡流探伤仪、涡流探头、涡流阵列、磁粉探伤机。代理以下品牌:汕超、美国GE(德国KK)、奥林巴斯(Olympus NDT)、美国磁通(Magnaflux)、DAKOTA等;

    SR540光学斩波器
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    SR540光学斩波器

    更新时间:2024-04-28   浏览数:60
    所属行业:仪器仪表 无损检测仪器 探伤仪
    发货地址:上海市宝山区  
    产品规格:SR540光学斩波器
    产品数量:0.00台
    包装说明:原厂包装
    价格:面议
    产品规格SR540光学斩波器包装说明原厂包装

    SR540光学斩波器

    ·4 Hz 至 3.7 kHz 斩波频率


    ·低相位抖动


    ·单光束和双光束实验


    ·和和差参考输出


    ·螺栓夹或杆安装

    SR540光斩波器



    单光束实验

    SR540 斩波器将满足您的所有光学斩波要求——从简单的测量到双光束和互调实验。SR540 具有4 位频率显示、板频率控制、模拟电压频率控制和两个具有可选操作模式的参考输出。提供两个阳氧化铝片:一个5/6 槽片,频达 400 Hz,一个25/30 槽片,频达 3.7 kHz。为与每行时隙对应的频率以及和频和差频提供参考输出。


    光斩波器应用


    单光束实验


    在此应用中,单个光束被外排槽斩波,右侧 BNC 的参考输出用于将锁定放大器锁定到斩波频率。也可以使用内排插槽,在这种情况下,左侧 BNC 将作为参考输出。在任何一种情况下,REFERENCE MODE开关都处于“向上”位置。


    双光束实验



    双光束实验

    在这种布置中,来自单个源的输出被两排斩波槽以两个不同的频率分割和斩波。一束通过实验,而另一束用作参考光束。光束重新组合并发送到同一检测器。两个 锁定用于检测ƒ内对应于实验信号的信号和ƒ外对应于参考光束的信号。如果实验臂中检测到的信号与控制臂中检测到的信号成比例,则由于改变源强度和检测器效率而产生的影响将被。

    SR540 规格

    一般的

    斩波频率4 Hz 至 400 Hz(5/6 插槽片)
    400 Hz 至 3.7 kHz(25/30 插槽片)
    频率稳定性250 ppm/°C(典型值)
    频率漂移<2 %,100 赫兹 < f < 3700 赫兹
    相位抖动 (rms)0.2°(50 Hz 至 400 Hz)
    0.5°(400 Hz 至 3.7 kHz)
    频率显示4 位,1 Hz 分辨率和准确度
    频率控制具有 3 个量程的 10 圈电位器:
    4 Hz 至 40 Hz
    40 Hz 至 400 Hz
    400 Hz 至 3.7 kHz
    输入控制电压0 到 10 VDC,满量程的 0 到 **。控制电压覆盖频率刻度盘。
    参考模式ƒ内部, ƒ外部, 5 × ƒ外部, ƒ内部+ ƒ外部, ƒ外部- ƒ内部
    方面控制器:7.7" × 1.8" × 5.1" (WHL)
    斩波器头:2.8" × 2.1" × 1.0" (WHL)
    片直径4.04" ±0.002"
    电缆长度6英尺
    力量12 瓦,100/120/220/240 伏交流电,50/60 赫兹
    保修单一年零件和人工材料和工艺缺陷,电机 90 天。

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